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本發(fā)明公開了一種使用中間層擴散制備多層非晶合金與銅復合 結(jié)構(gòu)的方法，包括如下步驟：對非晶合金和銅片進行切割、研磨、拋 光和清洗，同時用刀片將中間層劃分成規(guī)定的尺寸，對非晶合金薄片， 中間層以及銅薄片進行組裝和固定，以形成固定后的工件，將固定后 的工件放進真空擴散爐中，使中間層溶解于非晶合金薄片與銅薄片中實現(xiàn)擴散焊接。本發(fā)明使用中間層能夠降低擴散溫度，使得非晶合金 薄板在擴散后中仍然保持非晶態(tài)。復合結(jié)構(gòu)具有非晶合金的強度和銅 的韌性，能阻斷非晶合金塑性變形時剪切帶的延伸，從而避免了純非 晶合金材料容易脆斷的問題，增強抗剪切能力，焊接后薄片表面質(zhì)量 高，連接可靠。

本項目是通過控制液相還原條件下銀納米晶的成核和生長速度，可以得到 單分散的、高結(jié)晶性的單晶銀納米粉；通過引入銀納米晶核，控制溶液相中均 79 相成核和晶體的各向異性生長，可以制備單分散的、高結(jié)晶性的銀微米粉，進 而制得太陽能電池正面銀漿。

介紹了具有抑制鋰枝晶生長和多硫化鋰（Li 2

本發(fā)明公開了一種使用中間層擴散制備多層非晶合金與銅復合結(jié)構(gòu)的方法，包括如下步驟：對非晶合金和銅片進行切割、研磨、拋光和清洗，同時用刀片將中間層劃分成規(guī)定的尺寸，對非晶合金薄片，中間層以及銅薄片進行組裝和固定，以形成固定后的工件，將固定后的工件放進真空擴散爐中，使中間層溶解于非晶合金薄片與銅薄片中實現(xiàn)擴散焊接。本發(fā)明使用中間層能夠降低擴散溫度，使得非晶合金薄板在擴散后中仍然保持非晶態(tài)。復合結(jié)構(gòu)具有非晶合金的強度和銅的韌性，能阻斷非晶合金塑性變形時剪切帶的延伸，從而避免了純非晶合金材料容易脆斷的問題，增

本發(fā)明提供一種新型高沖擊韌性非晶基復合涂層及其制備方法， 其中復合涂層由一種鐵基非晶合金涂層與一種晶態(tài)金屬涂層交互疊加 構(gòu)成，晶態(tài)金屬涂層與基材直接接觸，復合涂層的最外層為鐵基非晶 合金涂層；復合涂層中非晶涂層及晶態(tài)涂層的界面結(jié)合緊密，不存在 連續(xù)孔隙；復合涂層采用超音速火焰噴涂技術(shù)獲得；復合涂層與金屬 基體具有高結(jié)合強度；復合涂層的沖擊韌性遠高于單相鐵基非晶合金 涂層。本發(fā)明獲得的復合涂層可在各種金屬基體表面進行大

本項目是通過控制液相還原條件下銀納米晶的成核和生長速度，可以得到單分散的、高結(jié)晶性的單晶銀納米粉；通過引入銀納米晶核，控制溶液相中均相成核和晶體的各向異性生長，可以制備單分散的、高結(jié)晶性的銀微米粉，進而制得太陽能電池正面銀漿。

產(chǎn)品詳細介紹1.概述JM3840動靜態(tài)應變測試分析系統(tǒng)(http://www.yzjmtest.com/comp/1-JM3840.htm)是一款支持靜態(tài)和低速動態(tài)應變測試的高性能的動靜態(tài)應變測試分析系統(tǒng)(或稱準動態(tài)應變測試分析系統(tǒng))，8點/臺，200Hz/點，適合于低速(準動態(tài))的應變測試場合，我們的動靜態(tài)應變測試分析系統(tǒng)穩(wěn)定性好，抗干擾能力強，廣泛應用于橋梁、建筑物、飛機、船舶、車輛、起重機械狀態(tài)測試。該動靜態(tài)應變測試分析系統(tǒng)不僅能進行動態(tài)應變測試，還可以直接配接拾振器進行振動測試，給橋梁檢測帶來很大的方便。2.主要技術(shù)指標及性能2.1 量程：0 ～ ±20000με2.2 分辨率：1με2.3 采樣速率：最高400Hz，多檔可設(shè)置2.4 幅頻特性：分析帶寬內(nèi)優(yōu)于±0.2dB2.5 平衡方式：初讀數(shù)平衡2.6 平衡范圍：0 ～±19999με2.7 測點數(shù)：8點/臺2.8 應變片阻值：60 ～ 1000Ω2.9 橋路形式：全橋、半橋、1/4橋（公共補償，兩片可選）2.10 采樣方式：同步并行采集2.11 測量誤差：±0.3% FS±2με2.12 系統(tǒng)支持設(shè)備數(shù)：不低于100臺2.13 供橋電壓：DC2V2.14 供電電源： AC220V/外接DC12～40V/系統(tǒng)DC12～40V3.系統(tǒng)軟件功能全漢化的WINDOWS應用軟件，方便直觀的應變、應力、橋式傳感器、拾振器等測試的參數(shù)設(shè)置功能。自動平衡、手動采樣、連續(xù)采樣]、定時采樣等采樣方式。經(jīng)典的靜態(tài)應變測試和動態(tài)測試分析的完美結(jié)合，可動態(tài)對測點參數(shù)及采集參數(shù)進行設(shè)置，具有豐富的數(shù)據(jù)表格及圖形顯示方式?？稍诰€或事后進行應變、時域、頻域、和幅域分析。軟件支持Office直接調(diào)用的數(shù)據(jù)格式和開放的二次分析數(shù)據(jù)接口。揚州晶明科技有限公司揚州晶明測試技術(shù)有限公司地址: 江蘇揚州市維揚路25號公司主頁 http://www.yzjmtest.com公司郵箱 tech@yzjmtest.com電話     0514-87850416,87867922,82960507傳真     0514-82960507聯(lián)系人   唐先生手機     15952768463個人郵箱 tcb@yzjmtest.com 或 yztcb@sohu.com 

產(chǎn)品詳細介紹1.概述揚州晶明科技有限公司(http://www.yzjmtest.com/comp/3-JM5930.htm)生產(chǎn)的JM5930動態(tài)信號測試分析系統(tǒng)采用USB2.0接口，集信號調(diào)理、數(shù)據(jù)采集、信號分析與輸出于一體的高性能、多功能系統(tǒng)。配接相應的傳感器，可測量力、壓力、加速度、速度、位移、應變、溫度等各種工程量，構(gòu)成振動沖擊信號測試分析系統(tǒng)、動態(tài)應變測試分析系統(tǒng)，可直接替代進口設(shè)備，廣泛應用于航空、航天、軍工、高校、研究所、計量院、工礦企業(yè)等單位，作為檢測計量系統(tǒng)。    揚州晶明科技有限公司揚州晶明測試技術(shù)有限公司地址: 江蘇揚州市維揚路25號公司主頁 http://www.yzjmtest.com公司郵箱 sale@yzjmtest.com電話     0514-87850416,87867922,82960507傳真     0514-82960507聯(lián)系人   唐先生手機     15952768463QQ       1225605447MSN      Dynamictestor@hotmail.com 個人郵箱 tcb@yzjmtest.com 或 yztcb@sohu.com  2.系統(tǒng)特點2.1 高精度2.2 系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計，具有較高的可靠性及可維護性2.3 采用多種創(chuàng)新性設(shè)計，具有較高的性能2.4 系統(tǒng)具有較強的兼容性和工程適應性2.5 全電子化、程控化設(shè)計2.6 系統(tǒng)具有較強的可擴充性3.系統(tǒng)組成3.1 采集器主機3.2 調(diào)理單元3.3 系統(tǒng)軟件4.主要性能指標4.1 通道數(shù)：16/84.2 AD位數(shù)：24 bits4.3 采樣方式：并行同步采樣4.4 采樣速率：最高96KHz/CH，多檔可設(shè)置4.5 精度：優(yōu)于0.3%4.6 數(shù)據(jù)接口：USB2.04.7 采樣觸發(fā)方式：手動觸發(fā)、定時觸發(fā)、內(nèi)觸發(fā)（信號觸發(fā)）、外觸發(fā)4.8 采樣長度：取決于設(shè)置或硬盤容量4.9 自動識別所配調(diào)理單元，并完成相關(guān)調(diào)理控制功能4.10 采用過采樣技術(shù)，大大降低了對前置濾波器的要求，提升了系統(tǒng)的可靠性及精度4.11 在45%采樣率以下平坦度優(yōu)于0.02dB，55%以上衰減率大于120dB4.12 配套功能完善的采集控制軟件 5、 JM3822應變調(diào)理模塊性能參數(shù)本公司的應變模塊可以配接絕大多數(shù)的信號輸入,如上圖所示5.1 通道數(shù)：25.2 信號輸入類型：DC_STRAIN、AC_STRAIN、IEPE、DCV、ACV可選5.3 增益：應變（DC_STRAIN、AC_STRAIN）（V/V）： 100、300、1000、3000、10000、30000可設(shè)置IEPE、DCV、ACV增益（V/V）：1、3、10、30、100、300可設(shè)置5.4 應變測量范圍： 0～±50000με5.5 應變適用橋路電阻： 50～10000Ω5.6 應變供橋電壓：2V、3V、5V、10V可設(shè)置精度：0.2%電流：30mA max電平：輸出對地對稱5.7 自動平衡范圍：應變：約8000μεIEPE、DCV、ACV：約±1Vp5.8 自動平衡時間：<1秒5.9 應變測量共模抑制比:≥80dB(DC～50HZ)5.10 精度應變：±0.5%±2μεIEPE、DCV、ACV：<±0.3%±2mV5.11 線性度：0.05%FS5.12 應變測量噪聲：<1μεRMS RTI（輸入短路、最大增益時）5.13 應變測量穩(wěn)定度：溫漂：零點：±2μVVTI/ /℃ 靈敏度：±0.02%FS/℃ 時漂：零點：±0.1%FS/ 2h（輸入短路）靈敏度：±0.1%FS/ 2h 5.14 最大帶寬（保證最大帶寬點衰減率不大于-4dB）：DC_STRAIN、DCV：DC～100kHzAC_STRAIN、IEPE、ACV：0.3Hz～100kHz5.15 濾波器截止頻率（-3±1dB，100kHz點-1dB ～ -4dB）： 30、100、300、1k、3k、10k、30k、100k Hz衰減率：約-12dB/oct5.16 輸出：±5Vp/5mA5.17 過載指示：±4.7V±0.2V6、 JM5862電荷調(diào)理模塊性能參數(shù)6.1 通道數(shù)：26.2 信號輸入類型：Q、IEPE、DCV、ACV可選6.3 增益電荷（mV/pC）：0.1、0.3、1、3、10、30、100、300、1000、3000可設(shè)置IEPE、DCV、ACV增益（V/V）：1、3、10、30、100、300可設(shè)置6.4 IEPE工作電壓：24V工作電流：約4mA6.5 積分、一次積分、二次積分可設(shè)置 6.6 精度：不積分：0.5%積分：3%6.7 最大帶寬（保證最大帶寬點衰減率不大于-4dB）：DCV：DC～100kHzQ、IEPE、ACV：0.3Hz～100kHz6.8 濾波器截止頻率（-3±1dB，100kHz點-1dB ～ -4dB）： 30、100、300、1k、3k、10k、30k、100k Hz衰減率：約-12dB/oct6.9 電荷輸入噪聲（輸入端旋接金屬保護帽）：<3μV(最大增益折合至輸入)6.10 輸出電壓：±5Vp/5mA6.11 過載指示：±4.7V±0.2V7、 JM5902轉(zhuǎn)速模塊性能參數(shù)7.1 配接電渦流傳感器7.2 通道數(shù):27.4 頻率范圍：DC～5KHz（±0.5dB）7.5 初始位置調(diào)零7.6 精度誤差：＜1%7.7 輸出：±5Vp8、數(shù)據(jù)采集分析軟件8.1、信號調(diào)理、數(shù)據(jù)采集與信號分析功能一體化，方便使用。8.2、結(jié)構(gòu)化的項目管理功能，直觀明了。8.3、數(shù)據(jù)預處理：數(shù)據(jù)編輯和截取、選抽、去零點、數(shù)據(jù)平滑、趨勢消除、微分積分、數(shù)字濾波等。8.4、時域分析：單蹤時域分析（包括時域的特征統(tǒng)計）、利薩如圖分析、自相關(guān)分析和互相關(guān)分析。8.5、頻域分析：付里葉分析、功率譜分析、功率譜密度分析、頻響函數(shù)分析、互譜分析、相干分析、脈沖響應函8數(shù)、沖擊響應譜、倒頻譜分析、最大熵分析等。8.6、提供了與office軟件的接口功能：將數(shù)據(jù)文件轉(zhuǎn)換成文本文件（.txt文件），Excel表格文件（.xls文件），及與功能強大的分析處理軟件Matlab的數(shù)據(jù)格式轉(zhuǎn)換功能。8.7、葉片疲勞分析軟件。9、模態(tài)分析軟件9.1、模態(tài)試驗測量的數(shù)據(jù)可以直接用來進行模態(tài)分析，也可以將其它類型的數(shù)據(jù)（轉(zhuǎn)為標準的UFF格式）導入項目進行模態(tài)分析。9.2、包括試驗模態(tài)分析（EMA)和運行狀態(tài)模態(tài)分析(OMA)。9.3、模態(tài)測試與分析軟件特點：（1）方便的建模功能：有常見的線、面、圓、長方體、圓柱、球形模型等自動創(chuàng)建功能，并可由它們組合成需要的模型，并支持模型的編輯與修改。（2）多批次測量的數(shù)據(jù)可以對單批或其中幾批數(shù)據(jù)進行分析以確認試驗的有效性。（3）支持各種頻譜分析功能，如頻響的幅頻、相頻，實頻、虛頻，奈奎斯特圖、脈沖響應函數(shù)，信號的自譜、互譜分析等功能。（4）模態(tài)識別：不僅能用于輸入輸出可測情況的傳統(tǒng)試驗模態(tài)分析(EMA)，而且還具有環(huán)境激勵、僅有響應測量的運行模態(tài)分析(OMA)功能。（5）時域ODS和頻域ODS：時域ODS用于觀察機械結(jié)構(gòu)在各時間點上的振動狀態(tài)；頻域ODS用于觀測機械結(jié)構(gòu)在各頻率點上的運行狀態(tài)振型，還可用于區(qū)分同一頻率點在不同模態(tài)空間上的強迫振動振型。（6）模態(tài)參數(shù)列表和振型動畫顯示。（7）可方便地生成報告：識別所得模態(tài)參數(shù)輸出方便，各種曲線存儲為BMP或JPG文件，振型動畫也可直接輸出成AVI文件，方便生成多媒體試驗報告。揚州晶明科技有限公司揚州晶明測試技術(shù)有限公司地址: 江蘇揚州市維揚路25號公司主頁 http://www.yzjmtest.com公司郵箱 sale@yzjmtest.com電話     0514-878504160514-8785041687867922,82960507傳真     0514-82960507 0514-82960507聯(lián)系人   唐先生手機     15952768463QQ       1225605447MSN      Dynamictestor@hotmail.com個人郵箱 tcb@yzjmtest.com 或 yztcb@sohu.com 

已有樣品/n實現(xiàn)了工藝過程中對Ge的誘導應變微調(diào)，使Ge的帶隙改變?yōu)?.7eV。以此類Ge襯底制備的PMOS器件實現(xiàn)了506cm2V-1s-1的高空穴遷移率。

通過精細調(diào)控Ge2+離子前驅(qū)體溶液與已制備的錫納米顆粒反應，合成帶隙可調(diào)的半導體錫鍺合金納米晶（0.51 eV至0.71 eV）。使用的錫納米晶模板可以大大降低反應的成核、結(jié)晶和生長的反應能壘。與以前報道的反應溫度（約300 ℃）相比，課題組的方法可以在較低的溫度下（60-180 ℃）得到錫鍺合金納米晶。課題組深入闡明了從錫到錫鍺合金納米晶的相變機理，清晰揭示了從不均勻核殼結(jié)構(gòu)到均勻合金結(jié)構(gòu)的演變過程。