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本發明公開了一種基于缺陷區域預判和水平集的 TFT-LCD-Mura 缺陷檢測方法。該方法提出了一種缺陷區域預判法先找到缺陷區域， 然后將缺陷區域的像素剔除，用余下的像素擬合得到背景圖像;用原 圖像減去背景圖像來消除背景不均勻性對缺陷分割的影響，求差后得 到殘差圖像，然后用一種基于閾值的水平集方法對殘差圖像進行分割 來檢測得到缺陷。該方法可以獲得精度較高的背景圖像，對于光照影 響有較好的魯棒性，能夠獲得準確的分割結果以及較低的誤檢率。

1、主要功能和應用領域： 本設備由多通道圖像采集模塊、復雜光學模塊、復雜照明模塊、精密機械運動模塊、分布式大數據分析處理模塊等多個模塊組成。能夠實現對第4.5代以上的液晶顯示器件ITO、銀漿線路的快速檢測并輸出報表。利用高分辨率線陣相機陣列和光源對PET基材的觸摸屏進行成像，并利用計算機圖像處理、模式識別及人工智能的理論與技術，拍攝到的觸摸屏圖像進行研究，通過對各種線路和特征進行特征匹配與邊緣分析，分別檢測上述線路缺陷并自動報告，從而達到在線自動檢測觸摸屏線路缺陷的目的，作為生產線上品質保證的重要方法。 2、特色及先進性： 1）針對ITO材料的高透光率：采用特殊設計的高功率光源和精密光學成像系統，確保能夠采集到圖像清晰、缺陷顯著、ITO線路對比度高的圖片，為算法處理達到不漏檢和低誤檢打下良好基礎。 2）針對ITO線路不規則：由于ITO線路的形式多樣且比較復雜，需要采用樣品和模板配準、像素值直接對比、線路邊緣對比、周期性判斷及DRC方法等算法方案同時進行處理。 3）針對軟材質基板（PET）：由于基板為軟材質，并且基板為600*600 mm的大規格尺寸，采用高精度的光學平臺和自動快速對焦系統，保證大尺寸范圍內圖像采集的清晰度。 4）針對缺陷類型繁多：采取提取局部特征并結合周期性和對比性完成缺陷檢測，針對不同類型的缺陷進行建標以達到較高的檢測效率，通過框選候選(潛在)缺陷位置，采用神經網絡算法進行自主機器學習，不斷匹配各種可能存在的缺陷類型，并結合不同的算法模塊進行檢測，寬進嚴出保證檢測效果。 3、技術指標： ？ 檢測對象： PET和電子玻璃為基板的ITO。 ？ 檢測項目：線路過寬、過窄、多線、線斷、線裂、連線、毛刺、爆點；膜刮痕、導電薄膜異物、氣泡、針孔、凸出、凹陷。 ？ 臺面要求：臺面能滿足檢測600mm×600mm以下尺寸產品。 ？ 檢測精度：能檢測最小線寬間距為20um。 ？ 最大檢測面積：檢測精度為20um時，最大檢測面積是600mm*600mm。 ？ 檢測效率：單張、單次檢測時間小于等于30秒。 ？ 檢測效果：錯報率控制在1%以下,檢出率99%以上。 ？ 設備穩定性：設備至少可5*24小時連續無故障工作。 4、關鍵問題和實施效果 該設備可廣泛應用于觸摸屏行業、LCD行業、太陽能行業和LED行業等領域，可滿足觸摸屏行業需求。以電子玻璃、PET為基板的ITO線路對于最終產品性能的影響是非常顯著的，如線路發生缺陷，則會直接造成產品功能缺陷，而越靠近出貨端檢出缺陷，對于廠家來說修復的成本越高，同時廢品的損失越高。該設備可以在最早的工藝流程上對線路進行檢測，從而整體提高生產廠家的制程控制能力。 該設備采用復雜高分辨率多通道線陣相機陣列進行光學成像，同時配合精密運動平臺實現2.5微米分辨率的圖像采集，其三維組裝圖如下圖所示。

本設備由多通道圖像采集模塊、復雜光學模塊、復雜照明模塊、精密機械運動模塊、分布式大數據分析處理模塊等多個模塊組成。能夠實現對第4.5代以上的液晶顯示器件ITO、銀漿線路的快速檢測并輸出報表。利用高分辨率線陣相機陣列和光源對PET基材的觸摸屏進行成像，并利用計算機圖像處理、模式識別及人工智能的理論與技術，拍攝到的觸摸屏圖像進行研究，通過對各種線路和特征進行特征匹配與邊緣分析，分別檢測上述線路缺陷并自動報告，從而達到在線自動檢測觸摸屏線路缺陷的目的，作為生產線上品質保證的重要方法。

電磁超聲導波檢測設備可實現對鋼板和鋼管缺陷的快速掃描，既滿足電磁超聲導波實驗室需求又可滿足工程應用，特別是針對高校用戶提供開放式數據接口和檢測數據源文件，可方便高校教師和學生科研使用。 

（1）自主研制了適用于高速、高溫、惡劣環境下的鑄坯、異形坯、型鋼、棒材、中厚板、帶鋼等多個系列金屬板帶表面缺陷在線檢測系統，主要指標達到或超過了國外同類產品；（2）提出多光路照明成像技術，提高高精密板帶產品低對比度和微小缺陷的檢出率，提高缺陷的檢測精度與檢出率；（3）開發出了表面質量在線檢測軟件、表面缺陷樣本庫管理軟件、缺陷識別算法軟件等個軟件模塊，建立了智能在線檢測平臺。本項目系統達到的技術指標是：檢測速度 22 米/秒（可按用戶要求提高）；檢測精度為 0.2mm（可按用戶要求提高）；對生產線上常見缺陷的檢出率≥95%，常見缺陷的識別率≥90%。

成果簡介： 1、主要功能和應用領域： 本設備由多通道圖像采集模塊、復雜光學模塊、復雜照明模塊、精密機械運動模塊、分布式大數據分析處理模塊等多個模塊組成。能夠實現對第4.5代以上的液晶顯示器件ITO、銀漿線路的快速檢測并輸出報表。利用高分辨率線陣相機陣列和光源對PET基材的觸摸屏進行成像，并利用計算機圖像處理、模式識別及人工智能的理論與技術，拍攝到的觸摸屏圖像進行研究，通過對各種線路和特征進行特征匹配與邊緣分析，分別檢測上述線路缺陷并自動報告，從而達到在線自動檢測觸摸屏線路缺陷的目的，作為生產線上品質保證的重要方法。 2、特色及先進性： ● 針對ITO材料的高透光率：采用特殊設計的高功率光源和精密光學成像系統，確保能夠采集到圖像清晰、缺陷顯著、ITO線路對比度高的圖片，為算法處理達到不漏檢和低誤檢打下良好基礎。 ● 針對ITO線路不規則：由于ITO線路的形式多樣且比較復雜，需要采用樣品和模板配準、像素值直接對比、線路邊緣對比、周期性判斷及DRC方法等算法方案同時進行處理。 ● 針對軟材質基板（PET）：由于基板為軟材質，并且基板為600*600 mm的大規格尺寸，采用高精度的光學平臺和自動快速對焦系統，保證大尺寸范圍內圖像采集的清晰度。 ● 針對缺陷類型繁多：采取提取局部特征并結合周期性和對比性完成缺陷檢測，針對不同類型的缺陷進行建標以達到較高的檢測效率，通過框選候選(潛在)缺陷位置，采用神經網絡算法進行自主機器學習，不斷匹配各種可能存在的缺陷類型，并結合不同的算法模塊進行檢測，寬進嚴出保證檢測效果。 3、技術指標： ● 檢測對象： PET和電子玻璃為基板的ITO。 ● 檢測項目：線路過寬、過窄、多線、線斷、線裂、連線、毛刺、爆點；膜刮痕、導電薄膜異物、氣泡、針孔、凸出、凹陷。 ● 臺面要求：臺面能滿足檢測600mm×600mm以下尺寸產品。 ● 檢測精度：能檢測最小線寬間距為20um。 ● 最大檢測面積：檢測精度為20um時，最大檢測面積是600mm*600mm。 ● 檢測效率：單張、單次檢測時間小于等于30秒。 ● 檢測效果：錯報率控制在1%以下,檢出率99%以上。 ● 設備穩定性：設備至少可5*24小時連續無故障工作。 4、關鍵問題和實施效果 該設備可廣泛應用于觸摸屏行業、LCD行業、太陽能行業和LED行業等領域，可滿足觸摸屏行業需求。以電子玻璃、PET為基板的ITO線路對于最終產品性能的影響是非常顯著的，如線路發生缺陷，則會直接造成產品功能缺陷，而越靠近出貨端檢出缺陷，對于廠家來說修復的成本越高，同時廢品的損失越高。該設備可以在最早的工藝流程上對線路進行檢測，從而整體提高生產廠家的制程控制能力。 該設備采用復雜高分辨率多通道線陣相機陣列進行光學成像，同時配合精密運動平臺實現2.5微米分辨率的圖像采集，其三維組裝圖如下圖所示。

本實用新型公布了一種管道缺陷掃查裝置，該掃查裝置包括四套軟軸驅動單元、掃查軌跡調節結構、永磁吸附機構和可調式探頭機構。每套軟軸驅動單元由電機、軟軸、軟軸套、車輪組和聯軸器組成。掃查軌跡調節機構由四套車輪組和連接板組成。永磁吸附機構由兩個極性相反永久磁鐵組和銜鐵組成，磁鐵的磁化方向與管道軸線方向垂直。可調式探頭機構為二級調節機構，使用的是平探頭。該裝置采用周向磁化方法，可檢測管道的縱向缺陷；可調式平探頭可適應多種規格管道的掃查；且該裝置掃查軌跡可調，傳動方式新穎，結構緊湊，體積小，重量輕，可廣泛應用于