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一種基于Ｔｉｋｈｏｎｏｖ正則化的亞像素位移測量方法
2021-04-11 00:00:00
云上高博會
http://www.502d.xyz
關鍵詞：
像素位移測量
所屬領域:
項目成果/簡介:
本發明公開了一種基于Ｔｉｋｈｏｎｏｖ正則化的亞像素位移測量方法。在數字圖像相關法中，計算散斑圖的亞像素位移時需要獲得散斑圖的灰度梯度，傳統的計算方法是通過有限差分法對散斑圖的灰度求導；然而數值求導具有很強的不穩定性，對圖像噪聲十分敏感，微小的測量誤差將導致計算所得灰度梯度嚴重偏離真實灰度梯度。針對這一問題，本文提出了一種基于Ｔｉｋｈｏｎｏｖ正則化的亞像素位移測量方法，利用光滑三次樣條函數擬合散斑圖的灰度，三次樣條的導數即為散斑圖的灰度梯度，進而利用亞像素位移測量方法獲得結構的亞像素位移，克服了傳統測量方法抗噪聲能力差的問題，可以有效提高測量精度。
項目階段:
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